半导体产业供配电异常解决方案-CET供配电异常信息捕捉与故障诊断分析解决方案为半导体高品质用电保驾护航

半导体产业供配电异常解决方案

方案介绍

半导体产业供配电异常解决方案，CET聚焦半导体产业客户需求，提供ieter+CET DigSys供配电异常信息捕提及故障诊断分析解决方案，实时监测工艺设备电能质量并输出电能质量评估报告。通过分布式故障录波、扰动源定位、SEM F47容忍度分析、故障诊断分析等功能。捕捉潜在的异常扰动，预防故障发生;对于已发生的事故，能够快速定位事故并生成诊断分析报告，协助用户快速完成事故处理并恢复供电，大幅度提升运维效率，保证供电可靠、稳定，保证生产连续运行，提高效率与良品率，最终实现提质增效。

方案价值

敏锐捕捉、全面预警

1024点/周波高精度采样，20us异常信息敏锐捕捉，精确呈现供配电异常统动波形，并生成一对一诊断分析报告，深挖设备故障本质，实现智能故障趋势预判，提前洞悉用电健康状态，帮助用户预知风险，预警事故发生。

扰动源定位

基于多种模型融合定位算法，准确判断引发电压暂降的扰动发生在监测点上游还是下游，确定电压智降源的位置，还可以实现系统级扰动源精确定位，对快速处理故障问题、合理的解决扰动事件引发的争议具有重要的指导价值。

综合分析

通过将PQ事件统计、容忍度分析、设备运行趋势分析、概率统计分析、故障波形分析、故障扰动定位在一个界面呈现,通过事件为纽带，可以交叉索引各功能的分析结果，为用户呈现多维度的电能质量综合分析结果。自带WaveAnalyzer波形分析工具，可通过PQ Vision界面事件或波形窗口跳转到波形分析界面，提供波形图分析、谐波分析、向量分析、序分量分析、RMS分析、波形运算等功能，可方便的查看和分析波形文件中模拟量通道波形、功率波形和数字量通道变位情况。